北京科技大学货物与服务单一来源采购公示内容









采购项目





FIB制样FIB平面制样TALOS-STEMD-SIMS等测试合同





采购项目

负责人





李成明









拟采购货物或服务的

详细说明





利用透射电镜进行位错分析，利用SIMS进行氮杂质的量化分析，利用XRT进行空洞位错分析，AFM表面电容进行表面抛光后的特征分析，PL谱进行杂质形态分析。









单一来源

采购原因

及

相关说明





江苏第三代半导体研究院有限公司（以下简称研究院）是****年*月注册于苏州工业园区，****年*月科技部函复批准“国家第三代半导体技术创新中心”建设。是目前国内最具权威的晶体材料分析机构，手段齐全，特别是SIMS分析方法，是国内唯一的一个能够正常运行的装备，在晶体缺陷观察方面，特别是透射制样位错观察，是国内最高水平。









拟成交

供应商





名称：江苏第三代半导体研究院有限公司









地址：江苏省苏州工业园区金鸡湖大道**号









公示期限





****年*月**日至****年*月*日（不少于*个日历日）









招采中心

联系方式





联系地址：北京市海淀区学院路**号北京科技大学招标与采购管理中心货物与服务采购科（办公楼***室）









联 系 人：秦老师





联系电话：***-********











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